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熒光光譜儀和衍射儀

X射線熒光光譜儀（XRF）可分析從4Be到92U的元素，測(cè)試范圍從常量到微量，重元素的檢測(cè)限可達(dá)ppm量級(jí)，樣品可以是固體、粉末、熔融片、薄膜、液體等，具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)，被測(cè)樣品不必分離、不被破壞，分析方法比較簡(jiǎn)便。熒光光譜分析已廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、玻璃、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得最多也最廣泛。X射線衍射（XRD）的應(yīng)用范圍非常廣泛，現(xiàn)已滲透到物理、化學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)以及各種工程技術(shù)科學(xué)中，成為一種重要的實(shí)驗(yàn)方法和結(jié)構(gòu)分析手段，具有無(wú)損試樣的優(yōu)點(diǎn)。